<div dir="ltr">Hi,<div><br></div><div>I am attempting to refine diffractograms of the NIST SRM 640c Si standard that I acquired on an Inel CPS120 diffractometer. I was able to successfully get out the instrument parameters using peakfit, and the results are quite good (Rwp ~ 5%).  </div><div><br></div><div>However, I have no success when I try a refinement on the data.  The phase data comes from a CIF file, and the calculated reflection positions match fairly well with the peaks in the data. However, the &quot;refined&quot; pattern does not follow the data at all (Rwp &gt; 54%) and the background is much larger than it should be.  I have tried several background functions and have varied the sample displacement parameters and the lattice parameter, but nothing helps. </div><div><br></div><div>Has anyone experienced a similar situation? Any advice is appreciated. <br clear="all"><div><br></div><div>Thanks,</div>-- <br><div class="gmail_signature" data-smartmail="gmail_signature"><div dir="ltr"><div><div dir="ltr">Nick Weadock<div>PhD Candidate, Materials Science</div><div>California Institute of Technology</div><div>1200 E California Blvd, Pasadena, CA 91125</div><div>MC 138-78</div><div>x2520</div></div></div></div></div>
</div></div>